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Bruker Nano & Micro CT
產品名稱
X4 POSEIDON
產品型號
X4 POSEIDON
產品簡介
 ​Bruker公司近期推出了X4 POSEIDON™,這是一款高性能的3D X射線顯微鏡(XRM),採用微型電腦斷層掃描技術(micro-CT),在緊湊的桌上型設計中提供了與大型落地式系統相媲美的高解析度3D成像能力。

主要特點包括:

  • 高性能X射線源:​與類似儀器相比,3D解析度提升超過10倍。 

  • 大視野高效率檢測器:​可選配高解析度科學級CMOS檢測器,提供多視角分析的靈活性。

  • 3DxSUITE軟體:​具備自動化流程、直觀且可自訂的使用者介面、整合的資料庫與使用者管理,以及多語言支援。

  • 低維護設計:​提高運行時間並降低擁有成本。

  • 現場可升級選項:​能夠根據分析需求的變化進行成本效益高的擴充。

X4 POSEIDON適用於多種工業和科學研究領域,包括地球科學、製藥研發與品質保證、複合材料、電池、再生能源、微電子,以及生命科學中的骨骼、牙科、軟組織和生物研究。

該系統的模組化硬體和以使用者為中心的軟體設計,使其能夠根據不同的分析任務進行調整,實現視野、放大倍率和速度的平衡,掃描時間快速,並能解析最小至2微米的特徵。

此外,X4 POSEIDON結合了兩個檢測器,創造了首款多視角桌上型3D X射線顯微鏡解決方案。 

總之,X4 POSEIDON是一款靈活且高性能的桌上型3D X射線顯微鏡,為各種工業和科學應用提供了高解析度的3D成像解決方案。


 

■ 功能說明

高解析度成像:配備先進 X-ray 光源與高靈敏度探測器,可達 2μm 細節分辨率,適用於複雜結構的 3D 掃描與分析。

雙檢測器技術:首款採用雙檢測器的桌上型 X-ray 顯微鏡,支援 多視角成像,確保更完整的數據解析。

3DxSUITE 智慧軟體:內建 自動化工作流程、AI 分析工具,並支援多種數據格式,方便用戶進行後續處理與分析。

多應用場景:適用於 材料科學、電子元件、電池研發、生物醫學、地質與環境科學等領域,可檢測金屬、陶瓷、複合材料、骨骼組織等樣品。

模組化設計,可擴展升級:支援 硬體與軟體升級,滿足不同研究需求,提升使用壽命與投資效益。


   




FeatureSpecificationBenefit
X-Ray Source                 

Reflection Source

Up to 100 kV, 20 W

< 5 µm spot at 4 W

Maintenance-free sealed X-ray source  

Fast Scans for QC and 4D XRM

Transmission Source

Up to 110 kV, 16 W

< 2 µm spot at 2 W

High resolution with a small focal spot
X-ray Detector16 MP sCMOS (4096 x 4096 pixels)Fine-pitch detector for achieving highest resolution
7MP Flat Panel (2800 x 2400 pixels)High frame rate detector for high throughput
Object SizeUp to 110 mm in diameterThe sample chamber allows for a large variety of sample sizes

Up to 300 mm in height

Sample Changer 

15 Positions

(up to 50 mm diameter and 80 mm height per position)

Unattended high throughput 

Auto sample shuffle to increase efficiency 

Add/remove samples at any time without disrupting the current scan

Dimensions 

W 1250 mm x D 604 x H 690

Weight 350 kg

Space-saving desktop system that fits in any lab
Power supply 100 - 240 V AC, 50 - 60 Hz, 3A maxMinimum installation requirements, a standard power supply is sufficient

 




 

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